ÜRÜN DETAYI

MX300-R Serisi Yüksek Sıcaklık Ters Kutuplama/Kapı Kutuplama Test Sistemi, yüksek sıcaklıkta gerilim stresi ömür testi ekipmanıdır. Başlıca ısıtma ve sıcaklık kontrol üniteleri, yüksek/düşük voltaj kaynakları ve ilgili kontrol ve veri toplama ünitelerinden oluşmaktadır. Bu sistem, IGBT, SiC MOSFET ve diyot gibi güç cihazlarının güvenilirliğini değerlendirmek için gerilim stresi ömür testlerinde kullanılır.

MX300-R Yüksek Sıcaklık Ters Kutuplama/Kapı Kutuplama Test Sistemi: 

• Yüksek test doğruluğuna sahiptir. Akım aralığı, ölçülen kaçak akıma göre otomatik olarak uyarlanır ve yüksek ölçüm doğruluğu sağlanır.
• Test sıcaklıklarını ve diğer verileri gerçek zamanlı olarak izler, kanal başına voltajı, test istasyonlarındaki kaçak akımı ve test odası sıcaklığını tespit eder ve böylece ilgili eğrileri çizer.
• Bağımsız yüksek voltaj arıza koruması, test istasyonlarının her birinde seri olarak bağlanmış koruyucu cihazlarla, cihaz arızası nedeniyle test kartının hasar görmesini önler.
• Sistem, SI, SiC ve GaN malzemeleriyle uyumlu IGBT'ler, MOSFET'ler ve diyotlar dahil olmak üzere güç cihazlarının test edilmesini destekler ve ayrı cihazlar ve modüller gibi çeşitli paketleme biçimlerine uyum sağlar.

Ürün Sipariş Kodu : MX300-R

Fiyat ve Bilgi Al

MX300-R Yüksek Sıcaklık Ters Kutuplama/Kapı Kutuplama Test Sistemi:

MX300-R Serisi Yüksek Sıcaklık Ters Kutuplama/Kapı Kutuplama Test Sistemi, yüksek sıcaklıkta gerilim stresi ömür testi ekipmanıdır. Başlıca ısıtma ve sıcaklık kontrol üniteleri, yüksek/düşük voltaj kaynakları ve ilgili kontrol ve veri toplama ünitelerinden oluşmaktadır. Bu sistem, IGBT, SiC MOSFET ve diyot gibi güç cihazlarının güvenilirliğini değerlendirmek için gerilim stresi ömür testlerinde kullanılır.

Temel Özellikler

• Test tipi: Yüksek sıcaklık ters kutuplama (HTRB) ve kapı kutuplama (HTGB)

• Desteklenen cihazlar: IGBT, SiC MOSFET, diyot

• Ana bileşenler:

  • Isıtma ve sıcaklık kontrol ünitesi

  • Yüksek/düşük voltaj kaynakları

  • Veri toplama ve kontrol ünitesi

• Ölçüm hassasiyeti: Kaçak akım ölçümünde otomatik aralık adaptasyonu ile yüksek doğruluk

• Kullanım amacı: Voltaj stres ömür testleri, cihaz güvenilirlik değerlendirmesi