0


Yüksek Güçlü Yarı İletken Elektronik Devre Komponent Dayanım Gerilimi Akımı Test Düzeneği

Güç Yarı İletkenleri İçin Özel Tasarım Test Cihazı

Çoklu Yüksek Güçlü Komponent Dayanım Testi Masası

Özel Geliştirilmiş Akım Ve Voltaj Kaynağı İle Yarı İletken Güç Anahtarlama Komponent Testi

Yüksek Güçlü Diod IGBT SiC Mosfet Kollektör Emiter Dayanım Testi

Tetikleme Voltajı Kollektör Akımı Ve Voltaj Testi

Üretim Bandındaki Yarıilrtken Teknolojilerinin Ömür Dayanım Testi


 

 

 

 

 

 

 




MX700-S Statik Test Sistemi:

  • 24 kanala kadar anahtarlama ünitesi, karmaşık topoloji ve şönt örnekleme testlerini destekler.
  • Üretim hattı testlerini ve yüksek hızlı testleri destekleyin.
  • JEP183A SiC MOSFET standardına göre test desteği sağlanmaktadır.
  • PN kodlarını girmek için tarayın, test raporlarını otomatik olarak oluşturun.
  • Kullanıcı dostu HMI, kullanımı kolay.

Ürün Sipariş Kodu : MX700-S

 
 
 
MX700-S Statik Test Sistemi Hakkında
MX700S Statik Test Sistemi, yüksek voltajlı güç kaynağı, fikstür, ölçüm cihazı, röle anahtarlama ünitesi, akım kaynağı ve destekleyici test cihazlarından oluşmaktadır. Kewell'in bağımsız olarak geliştirdiği test yazılımıyla donatılmış olup, güç cihazlarının statik özelliklerinin test edilmesi için istikrarlı ve hassas bir platform sağlar. Ürün, IGBT, SiC MOSFET, diyot ve diğer güç yarı iletken cihazlarının statik testinde kullanılabilir.

Kewell MX700-S, güç yarı iletkenlerinin statik testleri için geliştirilmiş profesyonel bir sistemdir. Özellikle IGBT, SiC MOSFET ve diyotların üretim hattında veya laboratuvar ortamında hızlı ve hassas ölçümünü sağlar




Temel Özellikler

  • Test tipi: Statik karakteristik ölçümü

  • Desteklenen cihazlar: IGBT, SiC MOSFET, diyot

  • Bileşenler:

    • Yüksek voltaj güç kaynağı

    • Ölçüm ve röle anahtarlama ünitesi

    • Akım kaynağı

    • Test fikstürü ve yardımcı enstrümanlar

  • Yazılım: Kewell’in kendi geliştirdiği test yazılımı ile otomatik raporlama ve kullanıcı dostu arayüz

  • Kapasite: 24 kanallı anahtarlama ünitesi ile karmaşık topolojiler ve şönt örnekleme desteği

  • Standart uyumu: JEP183A SiC MOSFET test standardına uygun

Ürün Teknik Özellikleri