ÜRÜN DETAYI

0

Kewell MX700-D, özellikle SiC (Silicon Carbide) güç yarı iletkenlerinin dinamik karakteristik testleri için geliştirilmiş profesyonel bir sistemdir. Tek/double pulse, kısa devre ve gate charge testlerini yüksek hassasiyetle yapabilmesi onu Ar-Ge ve üretim hattı için kritik hale getiriyor.






 

MX700-D SiC Dinamik Test Sistemi: 

  • Sistem, tek darbe, çift darbe, kısa devre ve kapı yükü testlerini destekleyen kapsamlı bir test yeteneği yelpazesi sunmaktadır.
  • Aşırı akım koruma özelliği sayesinde, cihaz arızası meydana geldiğinde akım devresini hızla kapatır.
  • Sistem, gelişmiş tasarımı sayesinde test devresinde son derece düşük kaçak endüktans elde ederek SiC cihaz karakterizasyonu gereksinimlerini karşılamaktadır.
  • Sistem, farklı test düzeneklerine uyum sağlayarak çeşitli paketleme formatları ve devre konfigürasyonlarında test yapılmasına olanak tanıyan olağanüstü bir uyumluluk sunar.
  • Sistem, test tutarlılığını sağlamak için birden fazla bağımsız sürücü ünitesini bünyesinde barındırır.
  • Sistem, basit ve kullanışlı bir kullanım için tasarlanmış sezgisel bir insan-makine arayüzüne sahiptir.

Ürün Sipariş Kodu : MX700-D

Fiyat ve Bilgi Al

Temel Özellikler

  • Test tipi: Dinamik karakteristik ölçümü (SiC MOSFET, IGBT, diyot)

  • Desteklenen testler:

    • Single pulse

    • Double pulse

    • Short-circuit

    • Gate charge

  • Bileşenler:

    • Programlanabilir DC güç kaynağı

    • Fixture ünitesi

    • Ölçüm ve kontrol ünitesi

    • Gate drive ünitesi

    • Koruma ünitesi

    • Yardımcı test enstrümanları

  • Yazılım: Kewell’in kendi geliştirdiği test yazılımı ile stabil ve hassas ölçüm platformu

  • Koruma: Over-current protection (cihaz arızasında akım devresini hızlı kapatma)

  • Tasarım: Çok düşük seri endüktanslı kompakt loop yapısı


Avantajlar

  • Yüksek doğruluk: SiC cihazların hızlı anahtarlama özelliklerine uygun düşük endüktanslı tasarım

  • Çok yönlü test: Hem Ar-Ge hem de üretim hattında kullanılabilir

  • Güvenlik: Arıza durumunda hızlı koruma devreye girer

  • Esneklik: Tek ve çift darbe testleriyle cihazın switching davranışını detaylı analiz etme imkanı

Ürün Teknik Özellikleri